G04200 - SEMI G42 - 半導体パッケージのジャンクション部と周囲間の熱抵抗測定用標準熱抵抗測定基板の仕様 StdPbc-1114 この仕様は，完全なシステム，サブシステム，および個々の部品に対する試験方法が含まれる。

この仕様は，完全なシステム，サブシステム，および個々の部品に対する試験方法が含まれる。

orgで入手可能となる。初版は2000年3月発行。前版は2007年3月発行。

3-0600 SEMI M23

and physical equipment configuration available from their equipment

G04200 - SEMI G42 - 半導体パッケージのジャンクション部と周囲間の熱抵抗測定用標準熱抵抗測定基板の仕様 StdPbc-1114 この仕様は，完全なシステム，サブシステム，および個々の部品に対する試験方法が含まれる。global Assembly & Packaging Technical Committee201171global Audits and Reviews Subcommittee20118www. semiviews. org www. semi. org1986200411 : Referenced SEMI Standards SEMI G32 Guideline for Unencapsulated Thermal Test Chip SEMI G38 Test Method for Still and Forced Air Junction to Ambient Thermal Resistance Measurements of Integrated Circuit Packages